Электронная микроскопия имеет многогранное применение в эту технологическую эпоху. Они значительно упростили процесс обработки изображений. Tem и Sem - это два разных типа методов электронной микроскопии, которые используются сегодня. Может быть трудно найти различия между ними. Однако они значительно отличаются.
Основные выводы
- ТЭМ (трансмиссионная электронная микроскопия) обеспечивает лучшее разрешение, чем СЭМ (сканирующая электронная микроскопия).
- SEM создает изображения поверхности, а TEM создает изображения внутренней структуры образца.
- СЭМ проще в использовании и требует меньшей пробоподготовки по сравнению с ТЭМ.
Тем против Сэма
ПЭМ — это тип электронной микроскопии, при котором электроны проходят через образец и формируют изображение на флуоресцентном экране или детекторе. СЭМ — это тип электронной микроскопии, при котором электроны сканируют поверхность образца и создают изображение, обнаруживая испускаемые вторичные электроны.
Tem относится к методу, при котором образец передает пучок электронов для создания изображения. В Теме есть несколько режимов работы. Некоторыми из них являются сканирование ПЭМ-изображений, обычная визуализация, спектроскопия, дифракция, и их комбинация. Кроме того, можно дополнительно увеличить потенциал TEM с помощью ряда каскадов и детекторов.
Sem относится к методу, при котором изображение создается путем сканирования с использованием сфокусированного пучка электронов. Шаблон для сканирования электронного луча представляет собой растр сканирование. Sem позволяет человеку видеть поверхность любого материала, начиная от биологических и заканчивая геологическими образцами. Кроме того, сем может иметь искусственную окраску для создания эстетического эффекта.
Сравнительная таблица
| Параметры сравнения | Tem | Без |
|---|---|---|
| Полная форма | Tem расшифровывается как трансмиссионная электронная микроскопия. | Сем означает сканирование Электронный микроскоп. |
| Учредитель | Заслуги первого ТЕМ принадлежат Максу Кноллю и Эрнсту Руске в 1931 году. | Заслуга ранней сканирующей микроскопии принадлежит Макмаллану. |
| Приложения | TEM имеет практический подход в области химических, физических и биологических наук. | Sem позволяет человеку видеть поверхность любого материала, начиная от биологических и заканчивая геологическими образцами. |
| Характеристики | Tem позволяет пользователям наблюдать за внутренними деталями образца. | Sem — удобный вариант для сканирования деталей поверхности образца. |
| Образец Диапазон | Тем может сканировать только ограниченный набор образцов. | Sem может сканировать широкий спектр образцов. |
Что такое Тем?
Tem расшифровывается как трансмиссионная электронная микроскопия. В этом методе микроскопии образец пропускает пучок электронов для создания изображения. Просвечивающие электронные микроскопы значительно превосходят световые микроскопы, поскольку они могут отображать изображения со сравнительно более высоким разрешением. В результате устройство может учитывать каждую мельчайшую деталь предмета.
TEM имеет практический подход в области химических, физических и биологических наук. Этот метод широко используется в областях вирусологии, материаловедения, исследований рака, нанотехнологий, загрязнения, палинологии, палеонтологии и исследований полупроводников. Таким образом, TEM имеет множество применений в современном мире.
В Теме есть несколько режимов работы. Некоторыми из них являются сканирование изображений ПЭМ, обычная визуализация, спектроскопия, дифракция и их комбинация. При внимательном рассмотрении любое ПЭМ-изображение представляет собой набор полиовирусов. Заслуга в создании первого ПЭМ принадлежит Максу Кноллю и Эрнсту Руске в 1931 году. ПЭМ также считается важным элементом в области нанонауки.
Предмет состоит из вакуумной системы, предметного столика, электронной пушки, электронной пушки и апертур. Кроме того, существует несколько методов визуализации в теме. Можно еще больше увеличить потенциал TEM с помощью ряда стадий и детекторов. Подводя итог, можно сказать, что в настоящее время тема стала широко используемой техникой.
Что такое Сем?
Sem расшифровывается как сканирующий электронный микроскоп. Этот метод создает изображение путем сканирования с помощью сфокусированного пучка электронов. Шаблон для сканирования электронного луча представляет собой растровое сканирование. Есть несколько sems, у которых есть потенциал для достижения разрешения, которое намного лучше 1 нанометра.
В Sem наблюдение за образцом происходит в условиях высокого вакуума, низкого вакуума или во влажных условиях. Заслуги ранней сканирующей микроскопии принадлежат Макмаллану. Создание изображения в скане является результатом взаимодействия электронного луча с атомами. В семе возникают различные типы сигналов.
Sem позволяет человеку видеть поверхность любого материала, начиная от биологических и заканчивая геологическими образцами. Sem — это быстрый сканер, предоставляющий точные данные. Это также позволяет человеку проводить наблюдения с минимальной подготовкой проб или без нее. Хотя sem не предоставляет 3D-изображения, он позволяет пользователю получать 3D-данные несколькими способами.
Sem использовался для измерения шероховатости кристаллов льда. Некоторые другие практические применения sem включают исследование поверхности разрушения металлов, измерение коррозии, фрактальную размерность и размерные измерения. Сем может иметь искусственную окраску для создания эстетического эффекта. В заключение можно сказать, что Sem имеет широкий спектр практических применений.
Основные различия между тем и сем
- Tem расшифровывается как трансмиссионная электронная микроскопия. Напротив, Sem означает сканирующий электронный микроскоп.
- Тем может сканировать только ограниченный набор образцов. С другой стороны, sem может сканировать широкий спектр образцов.
- Заслуга в создании первой ПЭМ принадлежит Максу Кноллу и Эрнсту Руске в 1931 году. Напротив, заслуга в создании ранней сканирующей микроскопии принадлежит Макмаллану.
- Tem позволяет пользователям наблюдать за внутренними деталями образца. С другой стороны, sem — удобный вариант для сканирования деталей поверхности образца.
- TEM имеет практический подход в области химических, физических и биологических наук. Напротив, Sem позволяет человеку видеть поверхность любого материала, от биологических образцов до геологических образцов.
- https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0091679X04740170
- https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0166516218311571
Последнее обновление: 11 июня 2023 г.
Я приложил столько усилий, чтобы написать этот пост в блоге, чтобы предоставить вам ценность. Это будет очень полезно для меня, если вы подумаете о том, чтобы поделиться им в социальных сетях или со своими друзьями/родными. ДЕЛИТЬСЯ ♥️
Пиюш Ядав последние 25 лет работал физиком в местном сообществе. Он физик, увлеченный тем, чтобы сделать науку более доступной для наших читателей. Он имеет степень бакалавра естественных наук и диплом о высшем образовании в области наук об окружающей среде. Подробнее о нем можно прочитать на его био страница.
TEM и SEM являются ценными инструментами для ученых и исследователей, позволяющими им изучать сложные детали различных образцов и материалов, что приводит к новым открытиям и достижениям.
Широкое использование TEM и SEM в различных научных областях подчеркивает важность электронной микроскопии для детального изучения и понимания широкого спектра природных и синтетических материалов.
Развитие SEM и TEM внесло значительный вклад в развитие научных исследований, позволяя проводить углубленный анализ и визуализацию микро- и наномира.
Я ценю предоставленную сравнительную таблицу, в которой четко обозначены различия между TEM и SEM, что облегчает понимание уникальных возможностей каждого метода.
TEM и SEM — два важных типа электронной микроскопии, которые играют значительную роль в различных научных областях, особенно в нанотехнологиях и вирусологии.
Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) необходима для изучения поверхностных структур и получения подробной информации о топографии и составе широкого спектра материалов.
Практическое применение TEM и SEM в таких областях, как вирусология, нанотехнологии и материаловедение, подчеркивает универсальность и значимость технологий электронной микроскопии.
Интересно наблюдать, как развиваются методы электронной микроскопии и в настоящее время используются во многих научных дисциплинах, от нанотехнологий до биологии и материаловедения.
Способность SEM предоставлять изображения поверхности с высоким разрешением и детальная внутренняя структура, выявленная с помощью TEM, демонстрируют взаимодополняющую природу этих двух методов электронной микроскопии.
Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ) произвела революцию в нашей способности наблюдать даже самые мельчайшие детали образца, сделав ее ценным инструментом в исследованиях и научном анализе.